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HALT – der „Highly Accelerated Life Test”, ein ebenso effektives wie aussagekräftiges Verfahren, um Ursachen dafür herauszufinden, warum elektronische Komponenten und Baugruppen ausfallen können. Kombinierte thermische und mechanische Belastungen lassen innerhalb weniger Testtage Rückschlüsse auf die Zuverlässigkeit Ihrer Produkte zu. So können Sie bereits in der Entwicklungsphase kurzfristig auf neue Erkenntnisse reagieren. HASS – das „Highly Accelerated Stress Screening“ ermöglicht, die Qualität eines Serienproduktes im Schnellverfahren zu testen.

Diese beiden Verfahren stellen wir Ihnen im Rahmen unseres Workshops am

18. und 19. September 2012 bei der SGS in München vor.   

Im ersten Teil des Workshops vermittelt Ihnen Dr. Jochen Beier die theoretischen Grund-lagen sowie die Ziele und Vorteile von HALT und HASS. Am zweiten Tag geht es um die Praxis. Edwin Dietel von der Continental Automotive GmbH berichtet über seine langjährige Erfahrung bei der Detektion von Zuverlässigkeits-Indikatoren und deren Optimierung.  Anschließend stellen wir Ihnen in unserem Labor die Prüfung an der HALT-Anlage vor.

Auch für die Besichtigung unserer Prüflabore für EMV, Produktsicherheit und Umweltsimu-lation haben wir ausreichend Zeit. Selbstverständlich bleibt Raum für Gespräche unterein-ander und mit den Experten, auch in gemütlicher Runde am Abend des ersten Tages.

Bitte melden Sie sich rechtzeitig an. Die Teilnahmegebühr beträgt 750,00 €, die wir zu 50% mit Ihrem ersten Auftrag innerhalb von sechs Monaten nach unserem Seminar verrechnen.

Wir freuen uns darauf, Sie in München zu begrüßen!

Agenda

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Yvonne Dorandt
t: +49 6128 744 319
f: +49 6128 744 9400
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