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Inhalt

Für Hersteller von elektronischen Bauteilen und Produkten geht es um hohe Qualität und maximale Zuverlässigkeit. Beim Workshop zu „HALT“ und „HASS“ erfahren Sie, wie Sie diese Verfahren nutzen können.

Start

26. Apr 2017

Ende

26. Apr 2017

„Highly Accelerated Life Test“ (HALT) und „Highly Accelerated Stress Screening“ (HASS) sind effektive und aussagekräftige Verfahren, mit deren Hilfe Entwickler und Hersteller von elektronischen Bauteilen Schwachstellen ihrer Produkte schon in einem frühen Stadium herausfinden können – bevor ein fehlerhaftes Produkt auf den Markt kommt. Die Tests geben Aufschluss über Verbesserungsmöglichkeiten und Fehlerquellen.

Dr. Jochen Beier von der SGS Germany GmbH in München vermittelt beim Praxis-Workshop in Weilburg die theoretischen Grundlagen von HALT und HASS und die Ziele und Vorteile beider Testverfahren. Er zeigt aber auch auf, wo ihre Grenzen liegen.

Veranstaltungsort: Weilburg

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