Analytische Möglichkeiten für die Untersuchung von Dünnschichtsystemen beim 30. Arbeitstreffen des Arbeitskreises DUV/VUV Optiken
Inhalt
Im Rahmen des 30. Arbeitstreffen des Arbeitskreises DUV/VUV Optiken stellt das SGS Institut Fresenius u.a. Innovationen in seinem Dresdner Standort vor. Der Arbeitskreis umfasst Partner aus den Bereichen Dünnschicht-, Vakuum- und Lasertechnik. Darunter befinden sich Anlagenbauer, Anwender, Komponentenhersteller (z.B. Laser), Forschungsinstitute und Analytikpartner.
Start
17. Mrz 2016, 10:00
Ende
17. Mrz 2016, 16:30
Ort
Dresden, Deutschland
SGS stellt seine Möglichkeiten für die physikalische und chemische Analytik bei Fertigungsüberwachung, Qualitätssicherung und Fehleranalyse in der Dünnschichttechnik vor.
Im Anschluss an die Sitzung laden wir zudem zu einem Besuch unseres Dresdener Labors ein. Ein Schwerpunkt ist die innovative neue XPS Anlage für die Dünnschichtanalytik – Quantera II.
Veranstaltunsort
GebäudeEnsemble Deutsche Werkstätten Hellerau
Raum Riemerschmid
Moritzburger Weg 67
01109 Dresden