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Inhalt

SGS INSTITUT FRESENIUS GmbH ist Gastgeber des nächsten Treffens des Sächsischen Arbeitskreises Elektronik-Technologie mit dem Thema Analytik für die Fertigungsüberwachung, Qualitätssicherung und Ausfallursachensuche

Start

03. Feb 2016, 10:00

Ende

03. Feb 2016, 15:30

Ort

Dresden, Deutschland

In regelmäßigen Abständen organsiert der VDE/VDI mit dem Sächsischen Arbeitskreises Elektronik-Technologie einen Workshop zu Themen, die die Branche bewegt. SGS INSTITUT FRESENIUS freut sich, Gastgeber für das anstehende 66. Treffen Arbeitskreises am 03.02.2016 zu sein. Thematische Schwerpunkte der diesjährigen Veranstaltungen sind die Analytik für die Fertigungsüberwachung, Fragen der Qualitätssicherung sowie Methoden bei der Suche von Ausfallursachen.

Informieren Sie sich beispielsweise über Möglichkeiten sowohl der physikalischen als auch der chemischen Analytik bei der Qualitätssicherung sowie die Schadens- und Fehleranalyse in der Elektroniktechnologie und Halbleitertechnik. Ebenfalls Thema sind die Vorteile von Highly Accelerated Life Test (HALT) für das Erkennen von Ausfallrisiken von Elektronikbauteilen im Entwicklungsprozess.

Zudem erwarten Sie eine Fallstudie zum Thema Feldausfälle von Halbleiterdioden und ein Vortrag zum Thema Analytik zur Unterstützung der AVT in der Sensorik sowie genügend Raum für Diskussionen. Abschließend können Interessierte an einer Labor- und Standortführung bei SGS in Dresden (Königsbrücker Landstraße 161, 01109 Dresden) teilnehmen.

Eine detaillierte Agenda, weitere Informationen sowie den Kontakt zur Anmeldung (spätestens bis Donnerstag, den 21.01.2016) finden Sie auf der Website der VDE/VDI Sächsischen Arbeitskreises Elektronik-Technologie.

Veranstaltungsort

GebäudeEnsemble Deutsche Werkstätten Hellerau
Tagungsraum Riemerschmid
Moritzburger Weg 67
01109 Dresden