SEMICON 2015 - SGS mit Fachvortrag über Fehler- und Schadensanalyse bei mikroelektronischen Bauteilen
Inhalt
SGS-Experte Gerald Dallmann spricht auf der Power Conference der SEMICON 2015 über Herausforderungen der Fehler- und Schadensanalyse bei mikroelektronischen Bauteilen in Anwendungen aus dem Automobil- und Energiesektor.
Start
07. Okt 2015, 16:50
Ende
07. Okt 2015, 17:15
Ort
Dresden, Deutschland